| เลขที่ มอก. | ชื่อ มอก. ภาษาไทย | ชื่อ มอก. ภาษาอังกฤษ | เอกสาร/อินโฟกราฟิก | รายละเอียด | |
|---|---|---|---|---|---|
| 60749 เล่ม 44-2567 | อุปกรณ์สารกึ่งตัวนำ - วิธีทดสอบทางกลและภาวะอากาศ เล่ม 44 วิธีทดสอบผลกระทบจากเหตุการณ์เดียว (SEE) โดยใช้ลำแสงนิวตรอนสำหรับอุปกรณ์สารกึ่งตัวนำ | SEMICONDUCTOR DEVICES - MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS - PART 44: NEUTRON BEAM IRRADIATED SINGLE EVENT EFFECT (SEE) TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICES |
|